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Registros recuperados : 3 | |
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Registros recuperados : 1 | |
1. | | REIS, E. M.; ZANATTA, M.; JULIATTI, F. C.; CAMPOS, H. D.; SILVA, L. H. C. P.; MEYER, M. C.; NUNES JUNIOR, J.; PIMENTA, C. B.; CASSETARI NETO, D.; MACHADO, A. Q.; UTIAMADA, C. M. A critical-point yield model to appraise the damage caused to soybean by white-mold. Bioscience Journal, v. 36, n. 6, p. 1816-1820, 2020. Título em português: Modelo de ponto crítico para estimar os danos causados pelo Mofo-branco em soja.
Artigo de acesso aberto.Tipo: Artigo em Periódico Indexado | Circulação/Nível: A - 2 |
Biblioteca(s): Embrapa Soja. |
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Registros recuperados : 1 | |
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